勘测表面的系统和方法
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勘测表面的系统和方法
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简介: 用于勘测表面(2)以测量与该表面相关联的物理或化学性质的系统。该系统包括手持式探针(4),其在表面(2)上的位置处测量物理或化学性质。摄像机(12)使用手持式探针(4)捕获使用者(6)的视频数据以勘测表面。深度感测装置(14)测量到手持式探针(4)的距离。处理电路从视频数据中识别手持式探针,并确定手持式探针(4)相对于表面(2)的位置。当手持式探针(4)被确定为距被测表面(2)小于阈值距离时,数据记录器和/或数据发送器记录和/或传输表示由手持式探针(4)测量的物理或化学性质的数据和表示手持式探针的相关位置的数据。
用于勘测表面(2)以测量与该表面相关联的物理或化学性质的系统。该系统包括手持式探针(4),其在表面(2)上的位置处测量物理或化学性质。摄像机(12)使用手持式探针(4)捕获使用者(6)的视频数据以勘测表面。深度感测装置(14)测量到手持式探针(4)的距离。处理电路从视频数据中识别手持式探针,并确定手持式探针(4)相对于表面(2)的位置。当手持式探针(4)被确定为距被测表面(2)小于阈值距离时,数据记录器和/或数据发送器记录和/或传输表示由手持式探针(4)测量的物理或化学性质的数据和表示手持式探针的相关位置的数据。
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标签:化学分析
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