简介:
本发明公开了一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法。所述方法包括如下步骤:通过化学反应将引发剂键接到金芯片上;通过自由基聚合的方法将单体化学接枝到金芯片上,得到带有聚电解质刷的金芯片;将带有聚电解质刷的金芯片置于样品池中并用溶液浸泡;通过电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的联用,得在溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛频率。本发明采用联用电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的方法,通过在金芯片上接枝聚电解质刷,一方面可利用石英晶体微天平实时测量在不同氯化钠溶液中聚电解质刷薄膜的质量和粘弹性的变化,另一方面也可利用电化学工作站同步测量在不同溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为。
本发明公开了一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法。所述方法包括如下步骤:通过化学反应将引发剂键接到金
芯片上;通过自由基聚合的方法将单体化学接枝到金芯片上,得到带有聚电解质刷的金芯片;将带有聚电解质刷的金芯片置于样品池中并用溶液浸泡;通过
电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的联用,得在溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛频率。本发明采用联用电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的方法,通过在金芯片上接枝聚电解质刷,一方面可利用石英晶体微天平实时测量在不同氯化钠溶液中聚电解质刷薄膜的质量和粘弹性的变化,另一方面也可利用电化学工作站同步测量在不同溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为。