简介： 本发明公开了一种金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法及其电解池装置,金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法包括敞开液膜厚度和闭塞液膜厚度联合测控的方法,以及敞开液膜厚度单独测控的方法。金属薄液膜腐蚀的薄层液膜测控方法采用的电解池装置包括:螺旋测微器、外螺纹绝缘棒、铂探针、内螺纹绝缘管、电极台、环形电极、圆形电极、辅助电极、电极负载台、容器、参比电极、零阻电流计。本发明适用于研究基体金属同时敞开和闭塞液膜关联环境下的腐蚀电化学行为;同时又可单独测控敞开液膜厚度,因此也适用于研究基体金属处于敞开薄层液膜单一环境下的腐蚀电化学行为。