简介:
本发明涉及WIC镶嵌超导线材铜超比测量技术领域,尤其为WIC镶嵌超导线提供一种质量与电阻相结合的铜超比测量方法;将镀锡前镶嵌圆线与镶嵌铜槽线进行剥离;采用电阻法测量镶嵌圆线的铜超比β,通过计算得出镶嵌圆线铜的体积,镶嵌圆线Nb阻隔层与NbTi芯丝的体积;称重镶嵌铜槽质量并通过计算获得镶嵌铜槽线体积;称重WIC镀锡成品线质量,镶嵌铜槽与镶嵌圆线质量之和,两者相减获得镶嵌焊料锡的质量并通过计算获得焊料锡的体积。大量测量比对实验表明:本发明的方法与化学腐蚀法测量比对误差在2%以内,满足使用需求。本发明的方法与化学腐蚀法相比,效率提升65%以上,且避免了化学腐蚀法使用HNO3对环境造成的污染。
本发明涉及WIC镶嵌超导线材
铜超比测量技术领域,尤其为WIC镶嵌超导线提供一种质量与电阻相结合的铜超比测量方法;将镀
锡前镶嵌圆线与镶嵌铜槽线进行剥离;采用电阻法测量镶嵌圆线的铜超比β,通过计算得出镶嵌圆线铜的体积,镶嵌圆线Nb阻隔层与NbTi芯丝的体积;称重镶嵌铜槽质量并通过计算获得镶嵌铜槽线体积;称重WIC镀锡成品线质量,镶嵌铜槽与镶嵌圆线质量之和,两者相减获得镶嵌焊料锡的质量并通过计算获得焊料锡的体积。大量测量比对实验表明:本发明的方法与化学腐蚀法测量比对误差在2%以内,满足使用需求。本发明的方法与化学腐蚀法相比,效率提升65%以上,且避免了化学腐蚀法使用HNO
3对环境造成的污染。