简介： 本发明公开了一种金属细丝超薄金属镀层厚度的测量方法，实现了直径小于20μm的金属细丝，金属镀层厚度小于0.2μm时镀层厚度的测量。首先取一定长度的样品，称量出总质量，采用化学检测的方法，将其完全溶解，利用电感耦合等离子体光谱仪测试出镀层金属的质量，样品总质量与镀层金属质量的差即为金属细丝的质量。然后根据金属细丝的质量，通过计算得到金属细丝的半径。最后利用扫描电子显微镜测试包含镀层的样品的直径，计算得出包含镀层样品的半径，该半径即为金属细丝的半径与镀层厚度的和，再减去金属细丝的半径即得金属镀层厚度。本发明的测试方法提高了超薄镀层厚度测试的准确度，具有很高的可操作性、重复性和再现性。