简介： 本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法，属于红外测试领域，解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括：根据需要得到的标准氧化膜的发射率E理论，计算得到标准氧化膜的厚度d；根据氧化膜的厚度d确定电解液的质量浓度c；以质量浓度c的电解液对作为阳极的铝片进行电化学氧化，在铝片表面制备得到标准氧化膜；采用傅里叶红外光谱发射率测量装置检测制备得到的标准氧化膜的发射率E测，E测作为标准发射率；用发射率测量装置测量采用步骤1至步骤3的方法制备得到的一系列已知标准发射率的标准氧化膜，通过测得的数值与标准发射率进行比较，以校准发射率测量装置。本发明的方法能够快速进行发射率测量装置的校准。