简介： 一种高纯石墨杂质元素含量测定方法，涉及一种用于纯度大于99.95％的石墨、锂电池负极材料等高纯石墨类型中的杂质元素测定方法。其特征在于其检定过程是将样品制成压片，采用X射线荧光光谱法测定杂质元素含量。本发明的方法，仅需称量、研磨、压片、测定等操作，从制样到测定完毕，仅需10min左右，大大缩减湿法化学10h以上的测定时长，测定结果和ICP‑OES结果高度吻合；有效解决了湿法化学测定石墨杂质元素成分耗时长，满足不了工业生产及时性需要的问题，为高纯石墨连续性生产以及物料交割节省了宝贵时间。