简介： 本发明涉及用于处理具有与温度有关的欧姆阻抗的测量元件的、尤其是能斯特探测器的所测量的阻抗R(t)的方法,其中在时刻tx测量测量元件的欧姆阻抗R(tx),并且在所测量的欧姆阻抗R(tx)的测量时刻tx,从围绕测量元件的气体的至少一个物理和/或化学参数中确定根据修正因数Kλ的修正因数Kλ(tx),这些修正因数Kλ对于围绕测量元件的气体的至少一个物理和/或化学参数的不同的值被预先确定,其中根据方程Rkorr(tx)=R(tx)·Kλ(tx)确定修正的阻抗值Rkorr(tx)。在此,与测量元件的至少一个物理和/或化学参数有关地确定测量元件的所测量的阻抗Rkomp(tx)的另外的修正。