简介： 本发明属于化学检测方法技术领域，具体涉及到采用热电离同位素质谱法测定硼及化合物中硼?10丰度的具体方法。通过本发明技术方案，建立了热电离同位素质谱法对硼及化合物中硼?10丰度测定方法。通过选择样品的点样方式，基准试剂浓度的标定，升温电流的最优区间，电流升温的最佳时间等，以富集3mg碳化硼粉末为测定试料，方法精密度优于0.01％。方法准确可靠，满足该项目分析技术指标要求。