简介： 本发明公开一种快速定量预测药物稳定性的方法，属于药物结晶生产质量控制技术领域。本发明是通过XRD图谱结合化学计量学方法建立药物晶体稳定后最大单杂与稳定后总杂模型，以该模型对药物稳定性进行预测，相比于目前应用的传统方法，该方法具有检测速度快，无需长时间稳定药物，可以快速对结果进行分析以指导下一步实验，同时具有可以对生产级别工业产物稳定性性质进行快速预测，节省人力物力等优势。以三水合头孢克肟反应结晶产物为例，该模型预测稳定，准确性高，为药物稳定性测试提供了一种新思路，对实际工业生产具有重大意义。