简介： 本发明为一种炼钢化渣剂压片X荧光测量方法，包括对炼钢化渣剂进行研磨；制备用于校准曲线的校准样品，校准样品是是经过化学分析定值的厂内炼钢化渣剂样品；对校准样品进行灼烧；通过压片机对校准样品进行压制；建立校准曲线；利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片，获得元素校正后的荧光强度值；设置元素测量条件。本发明能够对炼钢化渣剂中镁和硅含量用X射线荧光光谱方法进行分析，可应用于炼钢化渣剂中镁和硅含量元素的测定，能够实现高钛渣的快速全面快速分析，优于同类高温熔融X射线荧光分析的检验周期，满足对于准确、快速检验的要求。