简介:
本发明公开一种OLED显示装置及其封装效果的检修方法,涉及显示技术领域,以提高OLED显示装置的出厂合格率。所述OLED显示装置包括衬底基板、OLED器件、封装结构,封装结构与衬底基板之间形成封装空腔,OLED器件位于封装空腔内;所述OLED显示装置还包括检测部,检测部位于封装空腔内,检测部对水或/和氧的化学活性与OLED器件对水或/和氧的化学活性相同,或者,检测部对水或/和氧的化学活性高于OLED器件对水或/和氧的化学活性。所述OLED显示装置用于显示画面。
本发明公开一种OLED显示装置及其封装效果的检修方法,涉及显示技术领域,以提高OLED显示装置的出厂合格率。所述OLED显示装置包括衬底基板、OLED器件、封装结构,封装结构与衬底基板之间形成封装空腔,OLED器件位于封装空腔内;所述OLED显示装置还包括检测部,检测部位于封装空腔内,检测部对水或/和氧的化学活性与OLED器件对水或/和氧的化学活性相同,或者,检测部对水或/和氧的化学活性高于OLED器件对水或/和氧的化学活性。所述OLED显示装置用于显示画面。