本发明涉及一种用于定位
电化学存储器(165)中的缺陷的方法。该方法包括对电化学存储器(165)的部分区域(145、150、155、160、170)调温以便提高所述部分区域(145、150、155、160、170)的内部压力的步骤;检测测量值的步骤,所述测量值代表响应于所述部分区域(145、150、155、160、170)的提高的内部压力而进行的成分从所述部分区域(145、150、155、160、170)的逸出;和当所述测量值与比较值有预定的关系时定位所述部分区域(145、150、155、160、170)中的缺陷的步骤。