简介： 一种新型的固体表面分析仪器,它是以获取和分析固体样品表面的负离子谱以达到研究固体材料及其表面,和在固体表面发生的各种物理、化学过程,以及样品周围的气氛环境的目的。它不仅能够从负离子谱得到现有的原子探针(AtomProbe)所不能够得到的信息,而且降低了样品上所需的工作电压约十倍,使实验结果摆脱了外加高场的影响,并扩大了可研究材料的范围;与后者相结合,能获取更丰富的研究信息。