简介： 本发明属于化工分析处理技术领域，涉及一种X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用。本发明的X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法，包括以下步骤：研磨；粉末压片；采用X射线荧光光谱法，测定样片中各成分的发射强度，利用已建立的各成分的工作曲线，进行待测氢氧化铝样片中Al₂O₃、Fe₂O₃、SiO₂和Na₂O含量的分析。本发明方法操作简单，分析速度快，可同时分析氢氧化铝中Al₂O₃、Fe₂O₃、SiO₂、Na₂O四项成分，通过确认该方法具有科学性、先进性、适用性、分析时间短、准确度高、重复性好、无污染等特点；重复性和再现性均优于国家标准的氢氧化铝中化学成分的测定方法。