简介:
本发明涉及一种用于检测并分析材料2中的至少一种材料偏差的未受影响的材料分析的方法。该方法的特征在于,通过使用被布置成与材料接触的触觉传感器4对材料2中硬度不同的区域1进行检测,用色谱光A对所检测的区域进行照射以获得光谱形式的反射光B,以及对所获得的光谱进行分析以获得关于材料的物理及化学的分子结构的信息。本发明还涉及一种装置。
本发明涉及一种用于检测并分析材料2中的至少一种材料偏差的未受影响的材料分析的方法。该方法的特征在于,通过使用被布置成与材料接触的触觉
传感器4对材料2中硬度不同的区域1进行检测,用色谱光A对所检测的区域进行照射以获得光谱形式的反射光B,以及对所获得的光谱进行分析以获得关于材料的物理及化学的分子结构的信息。本发明还涉及一种装置。