简介： 本发明公开了一种基于电化学发光自干涉测量溶液中发光层厚度及发光分子与电极之间距离的方法，所述方法包括：(1)在电极体系的电解质溶液中含有发光分子或工作电极表面固定有发光分子，对电极体系施加电位，发光分子发光作为光源，工作电极产生干涉光；(2)依次采用准直镜、光纤和狭缝在垂直于工作电极的方向收集工作电极的干涉光信号，并用光纤光谱仪记录，得到工作电极的电化学发光自干涉光谱；(3)利用传输矩阵法和双光束干涉法对电化学发光自干涉光谱进行分析计算，得到发光层厚度或发光分子与电极之间距离。该方法测量的空间分辨率达到纳米级，对研究电化学发光的机理、提高其性能具有重要意义。