简介： 本发明涉及仪器检测分析技术领域，具体涉及一种基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法，测定步骤包括：（1）平板玻璃基板化学组分的X射线荧光熔融法制样测定；（2）利用步骤（1）中测定的组分含量的平板玻璃基板建立相应组分的X射线荧光平板法测定的校准曲线；（3）利用步骤（2）建立的玻璃平板测定校准曲线对组分相似或相近的平板玻璃基板试样直接进行组分测定。本发明的特点在于通过X射线荧光平板法测试校准曲线的建立，可以实现对平板玻璃基板样品组分的直接测定与监控，无需对样品再进行破碎、研磨、熔融法制样或压片法制样等繁琐处理步骤，避免了熔融法或压片法制样测定等过程引入的人为误差，平板法直接测定方式简单、准确、节能、环保。