简介： 本发明是关于一种X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法，其包括：1)将煤样品粉磨，制成粉末压片，用XRF分析仪测定粉末压片样品中各氧化物对应元素的X射线荧光强度Ii；2)令D＝4.0；3)计算各氧化物的质量百分数Ci，各氧化物质量百分数的总和SUM和各氧化物的归一化质量百分数C0i；4)求得的二氧化硅质量百分数，计算D值；5)利用步骤4)求得的D值，重复步骤3)和步骤4)；6)迭代至SUM＝1.00000±0.00001时，用步骤4求得的D值计算煤的灰分A。本发明通过测量煤中可燃烧的碳成分与灰分之比，进而计算煤的灰分，测定结果不受煤灰分化学成分变化的影响。