简介： 本发明公开了XRF微区分析在玻璃疵点检测方面的应用，包括疵点样品数据分析和分析结果的对比，可以得出疵点方面能提供详细的材质数据和从而分析出玻璃元素中的成分变化将本发明涉及玻璃疵点检测技术领域。该XRF微区分析在玻璃疵点检测方面的应用，解决了玻璃疵点尺寸通常情况下都较小，因此想要完成精确取样十分困难，一般会夹带十分多的基础玻璃，导致检测出来的疵点化学成分与基础玻璃化学成分之间的差异十分微小，进而难以判断玻璃的真实化学成分，以及一些较难判断来源的矿物及金属夹杂物，需要送到一些实验室进行电子显微镜成分分析，确认详细的种类及方向，在这方面的时间上，往往需要耽搁较长时间的问题。