简介： 本发明公开了一种X80管线钢真空渣化学成分的X射线荧光分析方法，属于化学分析技术领域。该分析方法包括建立真空渣标样，并采用本发明设计的固定托盘结合具体X射线荧光仪分析仪器建立标准分析曲线，为弥补该标准分析曲线发生漂移校正的缺陷，本发明还选择自制熔片样和抛光样进行校正及确认。最终保证了待测真空渣各化学成分测量的准确性。