简介： 用于分析干式化学测试元件的方法和装置,特别是免疫测试元件,通过光学扫描分析干式化学测试元件,测量光束离开载有一种或多种固定化光活性物质的测试元件化验区,通过检测器检测各自测量光强度。包括步骤:第一化验区光学扫描过程中,第一测量光强度的测量光束离开第一化验区,根据扫描参数的第一设置选择扫描参数,对检测器装置的工作范围和照射到其上测量光束的第一光量,相对彼此进行调整,第二化验区光学扫描过程中,区别于第一测量光强度的第二测量光强度测量光束离开第二化验区,根据区别于扫描参数第一设置的扫描参数第二设置选择扫描参数,对检测器装置的工作范围和照射到其上的测量光束第二光量,相对于彼此进行调整。