测试极片孔隙率的方法
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测试极片孔隙率的方法
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简介: 本发明公开了一种测试极片孔隙率的方法,该方法包括:裁取适量极片,并计量所述极片的质量M0;计量所述极片的体积V;将所述极片放置到容器中,所述容器内设置有十六烷,所述十六烷将所述极片完全浸泡,并浸泡一定时间;取出所述极片,放置于滤纸上,吸拭至恒重,计量所述极片的质量M1;根据公式ε=(M1-M0)/ρ/V×100%,计算所述极片的孔隙率ε。本测试方法不用压汞仪繁琐复杂困难的操作过程,降低了测量成本,另外,减少了汞的污染和对操作人员的潜在危害,同时也减少了对废汞的处理工作,提高了测试效率。
本发明公开了一种测试极片孔隙率的方法,该方法包括:裁取适量极片,并计量所述极片的质量M0;计量所述极片的体积V;将所述极片放置到容器中,所述容器内设置有十六烷,所述十六烷将所述极片完全浸泡,并浸泡一定时间;取出所述极片,放置于滤纸上,吸拭至恒重,计量所述极片的质量M1;根据公式ε=(M1-M0)/ρ/V×100%,计算所述极片的孔隙率ε。本测试方法不用压汞仪繁琐复杂困难的操作过程,降低了测量成本,另外,减少了汞的污染和对操作人员的潜在危害,同时也减少了对废汞的处理工作,提高了测试效率。
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