| 特性 | 
典型值 | 
测试方法 | 
					
| 平均层数 | 
≤10 | 
光学显微分析 | 
								
| 片径 | 
1~20μm | 
光学显微分析 | 
											
| 薄膜电导率 | 
≥300S/cm | 
四探针测试 | 
														
| 碳氧比 | 
6~10 | 
X射线光电子能谱 | 
																	
| 水分 | 
≤3.0% | 
烘干法 | 
																				
| 灰分 | 
≤1.0% | 
高温灼烧 | 
																							
| 外观 | 
黑灰色 | 
目测 | 
																										
            
            
            
            
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