简介： 扫描电子显微镜是利用二次电子进行显微形貌分析的电子显微分析设备。JSM-6700F由于采用了冷场发射电子枪和特殊的物镜设计加工技术，因此具有很高的分辨率：1nm/15KV，是微米乃至纳米级显微形貌分析的主要仪器。其主要应用于金属、新材料、半导体以及生物、工业研究等领域。