工作原理

T6-SDD采用美国AMPTEK高性能SDD硅漂移探测器，搭配50KV/1mA微型X射线管，通过高压激发产生高能X射线束，穿透样品表面并激发待测元素产生特征荧光。探测器捕获荧光信号后，内置的Smart FP算法对信号能量与强度进行解析，结合多基体智能校准技术，实现六类有害物质及合金元素的同步定量分析。该技术无需化学预处理，60秒内即可完成从样品激发到结果输出的全流程，检测精度达ppm级。

应用范围

设备覆盖电子元器件、塑料制品、金属部件、涂料涂层等多类型样品检测：电子行业可筛查电路板、连接器、线缆中的RoHS有害物质；玩具制造领域能检测塑料颗粒、颜料中的重金属含量；化工行业可分析涂料、油墨中的溴系阻燃剂。其检测范围同时支持合金牌号鉴定，助力金属回收行业快速分拣材料。

产品技术参数

元素检测范围：硫（S）至铀（U），覆盖RoHS六项及30种常见元素；

检出限：≤1ppm（理想状态），满足RoHS指令限值要求；

检测精度：相对误差≤±1.5%，重复性RSD＜1%；

硬件配置：搭载Intel i5十二核工控电脑、50KV/1mA数字高压电源、Φ0.5mm焦点X射线管；

准直器与滤光片：提供Φ1.5mm/Φ2.0mm/Φ3.0mm三档准直器，支持多滤光片自动切换。

产品特点

超精准检测：1ppm检出限与±1.5%精度，确保数据可靠性；

智能化操作：一键测试功能简化流程，非专业人员亦可快速上手；

多功能集成：支持RoHS六项、卤素、合金牌号、土壤重金属等多场景检测；

高效稳定：美国进口SDD探测器与工业级电脑保障长期运行稳定性，MTBF超50000小时。

T6-SDD凭借其技术优势，已成为环保检测领域的标杆设备，为企业提供低成本、高效率的合规解决方案。