工作原理

XF-T8采用能量色散X射线荧光光谱技术（EDXRF），通过高压电源驱动X射线管发射高能X射线，激发样品表面元素产生特征荧光。美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器捕获荧光信号后，内置的Smart FP算法对信号进行能量与强度解析，实现多元素同步定量分析。该技术无需化学预处理，60秒内即可完成从样品激发到结果输出的全流程，支持铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚等有害物质及合金牌号的精准鉴定。

应用范围

设备覆盖电子元器件、塑料制品、金属部件、土壤矿石等多类型样品检测：电子行业可筛查电路板、连接器中的RoHS六类有害物质；化工领域能分析塑料颗粒、涂料中的卤素含量；环保机构可监测土壤重金属污染。其检测范围同时支持合金牌号鉴定，助力金属回收行业快速分拣材料。

产品技术参数

元素检测范围：铝（13）至铀（92），支持30种元素同步计算；

检出限：≤1ppm（理想状态），满足RoHS指令限值要求；

检测精度：相对误差≤±1.5%，重复性RSD＜1%；

硬件配置：搭载Intel i5十二核工控电脑、50KV/1mA数字高压电源、Φ0.5mm焦点X射线管；

准直器与滤光片：提供Φ1.5mm/Φ2.0mm/Φ3.0mm三档准直器，支持多滤光片自动切换。

产品特点

超精准检测：1ppm检出限与±1.5%精度，确保数据可靠性；

智能化操作：一键测试功能简化流程，非专业人员亦可快速上手；

多功能集成：支持RoHS、卤素、合金牌号、土壤重金属等多场景检测；

高效稳定：美国进口探测器与工业级电脑保障长期运行稳定性，MTBF超50000小时。

XF-T8凭借其技术优势，已成为环保检测领域的标杆设备，为企业提供高效、低成本的合规解决方案。