工作原理

XF-S8采用美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器，结合X射线与可见光共焦点光路设计，通过X射线激发样品表面元素，探测器捕获特征荧光信号并转换为电信号。内置十二核工控电脑与全新的Smart FP算法，可快速解析信号能量与强度，实现多元素同步定量分析。该技术无需化学处理或破坏样品，60秒内即可完成从定性识别到含量计算的全程检测。

应用范围

设备覆盖贵金属全产业链需求：珠宝工厂可检测黄金、铂金、白银等首饰纯度；回收行业能快速鉴别镀层、掺假金属；实验室支持镀层厚度（0.001μm~80μm）与液体浓度（5mg/L~200g/L）分析。其检测范围涵盖铝（13）至铀（92）共30种元素，兼容贵金属合金、宝石、液体等多类型样品。

产品技术参数

检测精度：贵金属含量检测达±0.001%（99999金），镀层与液体检测RSD≤1.5%；

分析范围：贵金属0.0010%~99.9999%，支持多点连续测试；

硬件配置：三准直器、多滤光片自动切换，内置工业级十二核处理器；

环境适应性：工作温度15℃~31℃，通过ISO3497标准认证，符合CE安全规范。

产品特点

超精准检测：5个9高纯金检测能力行业领先，满足极端精度需求；

智能化操作：一键测试功能简化流程，支持自动计算平均值与RSD，减少人为误差；

多功能集成：镀层报警、铼钨检测报警等功能，可同步分析宝石天然/人工属性；

高效稳定：美国进口探测器与工业级电脑保障长期运行稳定性，MTBF超50000小时。

XF-S8凭借其技术优势，已成为贵金属检测领域的标杆设备，为行业提供可靠、高效的解决方案。