工作原理

15J显微镜采用无限远色差校正光学系统，光线经LED环形照明（亮度可调）照射样本后，通过平场消色差物镜（2.5X/10X/20X/50X）形成倒立实像，再由目镜或内置摄像头转换为正立图像。设备配备高精度直角坐标测量台，X/Y轴移动范围分别达50mm和13mm，结合0.01mm分度值的测微器，可精确测定孔距、刻线宽度、键槽尺寸等几何参数。转动测量台可实现360°角度测量，满足复杂矿物结构的分析需求。

应用范围

该设备适用于多场景矿物检测：在地质勘探中，可分析岩石薄片的矿物组成、晶粒度及双反射特性；冶金行业用于矿石品位鉴定及金属夹杂物检测；教学领域支持矿物反射率、均质性等特性观测实验。此外，设备兼容金相分析软件，可对矿石断口、压痕等微观形貌进行三维重构与测量。

技术参数

光学系统：无限远色差校正，支持明场/暗场观察

物镜配置：平场消色差物镜（2.5X WD58.84mm、10X WD7.81mm、20X/50X可选）

测量台：X轴50mm/Y轴13mm移动范围，0.01mm测微精度，360°无极旋转

目镜：10X高眼点目镜（视场直径18mm），瞳距调节范围52-75mm

光源：LED环形照明，寿命≥50,000小时，亮度0-100%无级调节

产品特点

高精度测量：直角坐标系统与测微器结合，示值误差≤(5+L/15)μm（L为被测长度），满足ASTM E3-11标准。

成像清晰：平场消色差物镜消除像差，边缘清晰度与中心一致，50X物镜下可分辨0.2μm级细节。

操作便捷：同轴粗微动调焦手轮设计，单手完成快速定位与精细聚焦；测量台刻度盘游标示值6’，提升角度测量效率。

稳定可靠：全金属机身抗振动干扰，LED光源免维护设计，适用于野外勘探及实验室长期使用。