工作原理

HV-1000Z采用维氏硬度测试原理，通过精密加载系统控制金刚石压头，在10gf-1000gf试验力范围内对被测材料表面施加微小载荷，形成四方锥形压痕。设备搭载高分辨率光学显微镜（500×/1000×两档变倍）与智能图像处理系统，自动识别压痕对角线长度并计算维氏硬度值（HV）。其核心优势在于试验力闭环控制与压痕边缘亚像素级提取技术，确保薄片材料（厚度≥0.05mm）及微小区域（压痕对角线≥5μm）的测量精度。

应用范围

该设备覆盖半导体封装、IC芯片基板、精密合金箔、锂电池极片、光学镀膜等行业的硬度测试需求。典型场景包括：铝/铜合金引线框架表面硬化层评估、陶瓷封装基板烧结质量检测、金属玻璃薄膜韧性分析、柔性显示屏金属走线硬度验证等。其兼容软质金属（如纯铝、金）与硬质涂层（如DLC、PVD），尤其适合对测试力敏感的微电子材料检测。

技术参数

HV-1000Z试验力范围10gf-1000gf（0.098N-9.807N），示值误差≤±1.5%，重复性≤1%。压痕测量分辨率0.01μm，最小检测区域直径0.03mm。设备配备5.7英寸彩色触控屏，支持中英文双语操作，存储容量达5000组数据。关键参数包括：物镜放大倍数500×/1000×、光源亮度无级调节、XY工作台行程25mm×25mm、分辨率0.001mm。

产品特点

微力精准控制：采用电磁力加载与激光干涉位移传感器，试验力波动≤0.5%，避免薄片材料变形影响结果。

智能图像分析：内置压痕自动识别算法，支持手动修正与多压痕平均计算，消除人为读数误差。

模块化设计：可选配高温试验台（-50℃至300℃）或真空环境舱，实现特殊工况下硬度测试。

人性化操作：一键自动调焦与照明，30秒内完成单次测量；开放式工作台设计，兼容异形样品固定夹具。