工作原理

KVM-4030Z采用非接触式光学测量技术，通过高分辨率工业相机捕捉被测物体影像，配合0.7-4.5X连续变倍光学镜头实现20-266X影像放大。设备搭载自主开发的智能图像处理系统，可自动识别边缘、圆弧、角度等特征，结合亚像素级算法实现微米级测量精度（XY轴精度达(2.5+L/200)μm）。测量过程中，LED环形光源与同轴光源协同工作，消除反光与阴影干扰，确保影像清晰度；CNC四轴控制系统驱动工作台（X/Y/Z轴行程400×300×250mm）实现全自动定位，单件测量周期缩短至3秒内。

应用范围

该设备覆盖多行业精密检测需求：

电子电器：测量PCB板孔径、连接器针脚间距及SMT元件定位精度；

机械制造：验证齿轮模数、螺纹参数及轴类零件同轴度；

汽车工业：检测发动机活塞、密封圈轮廓度及冲压件平面度；

精密模具：分析模具型腔尺寸偏差与分型面间隙，支持CAD图纸导入比对。

技术参数

量程范围：400×300×250mm（X/Y/Z轴）

分辨率：0.0005mm

光学系统：0.7-4.5X变倍镜头，20-266X影像放大

光源配置：程控式三环八区LED表面光+同轴光

软件功能：支持SPC统计、GD&T形位公差标注及自动报表生成

运行环境：温度20℃±2℃，湿度30-80%，振动<0.002g

产品特点

高精度与稳定性：采用大理石基座与精密直线导轨，抗振动性能优异，重复测量误差<0.5μm；

智能化操作：10寸触摸屏支持手势缩放，软件内置AI寻边算法，新手可快速完成复杂测量任务；

兼容性强：可导入DXF、IGES等格式CAD图纸，实现设计图与实测数据实时对比；

维护便捷：模块化设计支持光源、相机快速更换，配备自诊断系统提示故障代码，降低停机时间。