工作原理

ZTJM-1963采用2100万像素CMOS工业相机与HDMI高清输出技术，通过8-50mm连续变倍物镜与10X目镜组合，实现光学放大与电子放大的双重增益。设备搭载OK90环形LED光源，支持亮度独立调节，配合无穷远光学系统设计，可消除反光干扰，清晰呈现金属表面裂纹、芯片引脚氧化等微观特征。图像信号经FPGA高速处理芯片优化后，通过HDMI接口实时传输至11英寸IPS显示屏，确保色彩还原度与对比度达到行业领先水平。

应用范围

该设备广泛应用于电子制造、精密机械加工及科研教学领域：在电子行业，可检测PCB板焊点虚焊、BGA芯片引脚氧化及微孔结构；在五金加工领域，能分析金属表面毛刺、镀层均匀性及模具磨损；在材料科学领域，支持复合材料纤维走向、涂层附着力等微观形貌分析。其便携式设计还适用于实验室样品观察、教学演示及现场维修指导。

技术参数

核心参数包括：像素2100万，分辨率5184×3456，传感器尺寸1/2.8英寸；光学放大倍数8-50mm，电子放大倍数0-100X；显示屏尺寸11英寸，亮度350cd/m²，对比度1000:1；工作距离10-265mm，立柱高度340mm，总重量6kg；支持HDMI/USB双接口输出，配备128GB存储卡，可实现图像捕捉、视频录制及参数调节功能。

产品特点

高精度成像：采用全光学玻璃镜片与多层镀膜技术，结合2100万像素传感器，确保图像细节清晰可辨；

智能操作体验：配备无线遥控手柄，支持远程控制变焦、照明及图像捕捉，提升检测效率；

环境适应性强：LED光源寿命≥50000小时，支持亮度调节，适配不同材质表面检测需求。