工作原理

JD3采用模块化双系统设计：光学投影模式下，高亮度LED冷光源经消色差物镜聚焦后投射至工件表面，反射光线通过半透半反镜导入高分辨率CMOS传感器，实时采集轮廓影像并传输至智能分析软件，运用亚像素边缘检测算法计算直径、角度等参数；接触式测量模式下，可快速换装高精度电子测微仪，通过红宝石测头直接触测工件，将位移信号转化为数字信号输出。双系统共享花岗岩基座与空气轴承导轨，确保两种模式测量结果同源高精度，重复性≤0.2μm。

应用范围

该设备覆盖多行业核心检测场景：机械加工领域支持齿轮模数投影比对与轴径接触式测量；电子制造行业可完成连接器引脚间距投影检测与芯片封装厚度接触测量；精密模具领域适用于型腔轮廓投影逆向分析与冲头直径接触校准；五金行业则能实现螺丝螺距投影筛查与垫片厚度批量接触检测。此外，设备支持与SPC统计软件联动，实时监控生产过程尺寸波动，为工艺优化提供混合数据支撑。

技术参数

JD3投影测量范围0-150mm，分辨率0.0001mm，最大允许误差±(0.3+L/500)μm；接触式测量范围0-25mm，分辨率0.00005mm，最大允许误差±0.15μm。设备配备5×、10×、20×可更换物镜，投影屏放大倍率10×-100×连续可调，CMOS传感器帧率达120fps，支持动态测量与视频录像。电子测微仪测力范围0.05-2N，适配不同硬度工件检测需求。

产品特点

一机双模高效切换：通过快换接口实现光学投影与接触测量模式30秒内转换，无需重复装夹工件，单件检测时间缩短40%。

超高精度同源保障：双系统共用花岗岩立柱与恒温控制系统，有效消除环境干扰，确保两种模式测量结果一致性≤0.3μm。

智能化数据分析：12英寸触摸屏搭载ZT-Dual Pro软件，支持双模式数据同步采集、自动生成对比报告及多语言界面切换，操作门槛降低50%。

模块化扩展设计：可选配激光测头、探针模块，进一步扩展非接触式三维测量功能，适配复杂曲面工件检测需求。