工作原理

SA-30DX采用落射式同轴照明系统，光源发出的光线经物镜聚焦后垂直照射样品表面，反射光通过同一物镜收集并传递至目镜成像。其核心光学系统为无限远色差校正（CSIS）设计，通过物镜与管镜的组合消除像差，确保全视场范围内图像清晰、色彩还原度高。设备配备高眼点超宽视野平场目镜（PL10x/22mm）与无限远平场消色差物镜，可消除视场边缘畸变，支持明场、暗场及偏光观察模式，满足不同材料的检测需求。

应用范围

SA-30DX广泛应用于金属材料（如钢铁、铝合金、铜合金）的晶粒度分析、相组成鉴定及缺陷检测，同时适用于半导体硅晶片、PCB电路板、纤维材料、镀层及涂层等非金属材料的表面结构观察。在工业领域，设备可辅助质量控制部门检测焊缝、铸件及热处理件的微观组织；在科研领域，支持材料研发中的相变研究、失效分析及工艺优化。

产品技术参数

光学系统：无限远色差校正光学系统（CSIS），分辨率优于0.5μm；

物镜配置：5X、10X、20X、50X平场消色差物镜，工作距离≥8mm；

目镜：高眼点超宽视野平场目镜（PL10x/22mm），支持测微尺加装；

调焦机构：低手位粗微调同轴调焦，粗调行程28mm，微调精度0.002mm，带限位装置；

载物台：复合式双层机械平台，移动范围76mm×50mm，精度0.1mm；

照明系统：3W LED冷光源，自适应90V-240V宽电压，支持亮度连续调节；

观察筒：铰链式三目观察筒，30°倾斜设计，支持摄影摄像功能。

产品特点

SA-30DX以“高精度、多功能、易操作”为核心优势：

成像卓越：CSIS光学系统与平场物镜组合，消除色差与视场畸变，确保图像边缘清晰度；

智能照明：LED冷光源配合柯拉照明系统，提供均匀无眩光照明，支持明场/暗场切换；

人性化设计：低手位调焦机构与防滑载物台，减少操作疲劳；三目观察筒可连接数码相机或图像分析软件，实现数据存档与定量分析；

耐用可靠：全金属机身结构，适应实验室及生产线环境，维护成本低。

该设备通过“硬件+软件”一体化解决方案，为材料检测提供高效、精准的技术支持，助力企业提升产品质量与研发效率。