工作原理

X-MET8000基于X射线荧光光谱（XRF）技术，通过微型铑（Rh）靶X射线管激发样品表面元素，使内层电子跃迁并释放特征X射线。其配备的大面积硅漂移探测器（SDD）可精准捕获这些荧光信号，结合基本参数法（FP）与经验系数校准算法，实现从镁（Mg）到铀（U）的31种以上元素定量分析，检测限低至ppm级，尤其擅长轻元素（如铝、硅、硫）的高灵敏度检测。

应用范围

该仪器广泛应用于土壤重金属污染筛查、矿石品位评估、废旧金属回收及材料可靠性鉴定（PMI）。其Geo系列型号可检测土壤中镉、铅、砷、汞等35种有害元素，支持GPS定位与GIS数据整合，助力现场快速决策；在工业领域，可区分304/316不锈钢、6061/6063铝合金等相似牌号，满足电力、石化、航空航天等行业对金属成分的严苛要求。

技术参数

X-MET8000采用40kV/50kV可调X射线管，搭配6位滤光片转换器，适配不同样品类型；4.3英寸彩色触摸屏支持中英文等12种语言操作，内置16GB存储可保存超10万组数据；IP54防护等级与耐冲击外壳确保其在-10℃至50℃环境下稳定工作，1.5kg轻量化设计搭配12小时续航锂电池，满足全天候野外作业需求。

产品特点

精准高效：10秒内完成开机即测，3-10秒输出元素含量结果，实验室级精度与现场快速检测完美平衡。

智能安全：四重辐射防护（红外感应、密码锁、LED警示灯、散射监测）与IP54防护等级，保障操作人员与环境安全。

灵活扩展：支持自定义牌号库、云端数据管理（ExTOPE Connect）及蓝牙/WiFi传输，可连接打印机、GPS等外设。

耐用可靠：全铝合金机身与双重冷却系统（自然散热+Peltier恒温）延长核心部件寿命，可选防扎窗口膜降低维护成本。

X-MET8000以“一机多用”为核心优势，覆盖从环境监测到工业质检的全场景需求，成为现场快速分析的可靠选择。