工作原理

SZM显微镜基于无限远色差校正光学系统，通过物镜将样品光线聚焦至无限远，经管镜重新汇聚至目镜或摄影接口。其核心光学路径中，双目观察头内置分光棱镜，可按需分配光路至左右目镜（双目模式）或同时分光至目镜与摄影接口（三目模式），分光比支持0:100至100:0无级调节。配合高数值孔径物镜（NA≥0.3）与消色差设计，有效消除色差与像散，确保全视野范围内图像清晰锐利。

应用范围

该显微镜适用于多场景微观检测需求：在工业领域，可用于电子元器件焊点质量分析、精密零件表面缺陷筛查、材料断口形貌观察及纺织纤维结构鉴定；科研领域支持生物切片动态监测、矿物晶体生长研究及微流控芯片检测；教学实验通过实时投影功能，可同步展示显微图像至大屏幕，辅助学生理解微观世界结构与功能关系。

技术参数

光学系统：无限远色差校正光学系统，齐焦距离≤45mm

观察头：30°倾斜双目/三目观察头，瞳距调节范围52-75mm，目镜屈光度补偿±5D

物镜：标配4X、10x、40x平场消色差物镜，支持100x油镜选配

调焦机构：粗微调同轴手轮，粗调行程25mm，微调精度0.002mm

照明系统：LED柯勒照明，亮度可调，支持明场/暗场切换

摄影接口：标准C接口（直径23.2mm），兼容多数工业相机

产品特点

双目三目灵活切换：分光比可调设计，兼顾目视观察与图像记录需求

高清平场成像：平场消色差物镜消除视场边缘畸变，实现全视野均匀清晰成像

精密调焦系统：微调精度达0.002mm，适配高倍物镜精准对焦

模块化扩展性：支持偏光、荧光、金相等多种观察模式附件升级