工作原理

ZSXPrimus基于能量色散X射线荧光（EDXRF）技术：X射线管发射高能光子激发样品原子，使其内层电子跃迁并释放特征X射线。能量色散检测器（如硅漂移探测器SDD）捕捉不同能量的X射线，通过多道分析器（MCA）解析能量谱，结合标准曲线定量计算元素含量，实现多元素同步检测。

应用范围

适用于金属合金（如钢铁、铜铝）、矿石、水泥、陶瓷、环境样品（土壤、污泥）及电子元件的成分分析，尤其适合冶金企业原料检测、地质勘查矿产鉴定、环保领域重金属监测及科研机构元素研究，满足生产、质检及研发多环节需求。

产品技术参数

检测元素：Mg-U（可扩展至Be-U）

测量范围：ppm级至100%级（依元素而定）

测量精度：≤±0.5%（相对标准偏差）

分析时间：30-300秒/样品（依模式而定）

X射线管：Rh靶/Ag靶（可选），功率≤50W

检测器：硅漂移探测器（SDD），分辨率≤140eV

数据接口：USB、以太网（支持LIMS系统对接）

电源：AC220V±10%/50Hz

外形尺寸：650×550×800mm

重量：≤150kg

符合标准：GB/T 17359、ASTM E1621、ISO 11885

产品特点

多元素同步检测：可一次性分析20+种元素，覆盖轻元素到重金属；

无损快速分析：无需制样，直接测量固体/粉末，30秒内完成初筛；

高精度与稳定性：采用进口X射线管与高分辨率SDD检测器，长期使用精度波动≤1%；

用户友好界面：10.4英寸触控屏，中文菜单，支持自定义检测方案与报告生成；

安全防护设计：配备铅屏蔽舱体与紧急停机功能，辐射剂量低于国家标准；

智能校准系统：内置标准样品库，支持自动校准与曲线修正；

数据管理：支持导出Excel/PDF格式报告，兼容实验室信息管理系统（LIMS）。

ZSXPrimus凭借其无损检测、多元素分析与智能化设计，成为材料成分检测领域的高效解决方案，助力用户提升检测效率与数据可靠性。