工作原理

EDX600PLUS基于能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术，其核心流程如下：

X射线激发：微型X光管发射高能X射线，穿透镀层表面并激发基体及镀层元素原子内层电子。

特征荧光产生：外层电子跃迁填补空位时释放特征X射线荧光，其能量与元素种类对应，强度与含量成正比。

信号检测：硅漂移探测器（SDD）捕获荧光信号，经多道分析器（MCA）转换为能谱图，分辨率达140eV@Mn Kα。

厚度计算：通过FP（基本参数法）或经验系数法校正基体效应，结合镀层密度参数自动计算厚度（μm）及元素质量分数（wt%）。

设备支持表面扫描与点测模式，检测深度可达镀层全厚度。

应用范围

电子制造：分析PCB板镀金（Au）、镀镍（Ni）、化学镍钯金（ENIG）层的厚度均匀性。

汽车工业：检测发动机零部件镀铬（Cr）、刹车盘镀锌（Zn）层的耐腐蚀性能。

五金装饰：测量卫浴龙头镀铜（Cu）、镀镍（Ni）及表面PVD镀钛（Ti）层的附着力。

半导体封装：监控引线框架镀银（Ag）、键合区镀金（Au）层的可焊性。

新能源领域：分析锂电池集流体镀铜（Cu）层的导电性及光伏焊带镀锡（Sn）层厚度。

技术参数

X光管：50kV/500μA微型光管，铑（Rh）靶材，寿命≥30,000小时

探测器：硅漂移探测器（SDD），分辨率≤140eV@5.9keV，计数率＞500kcps

检测元素：Na（11）~U（92），覆盖镀层常用金属（Au/Ag/Cu/Ni/Zn/Cr等）

厚度量程：0.01μm-50μm（视材料密度），精度±3%（标准样品验证）

样品室：φ300mm×100mm大腔体，支持异形件及微小区域检测（最小光斑0.1mm）

分析时间：单点测量＜15秒，地图扫描＜2分钟（10mm×10mm区域）

产品特点

无损快速检测：无需制样或破坏样品，30秒内完成镀层厚度与成分同步分析。

高精度算法：内置FP-STD软件，可自动识别基体类型并校正吸收-增强效应，数据重复性RSD＜2%。

智能校准功能：一键式标准样品校准，支持用户自定义镀层材料库与厚度-密度曲线。

多模式分析：提供点测、线扫描、面映射（厚度分布热力图）三种检测模式，满足不同场景需求。

安全防护设计：三层铅屏蔽结构+激光定位安全联锁，确保操作人员辐射剂量＜0.3μSv/h。

数据管理便捷：内置10,000组存储容量，支持USB/WiFi数据导出与LIMS系统对接，生成符合ISO标准的检测报告。