工作原理

EDX1800采用能量色散型X射线荧光光谱技术，其核心原理如下：

X射线激发：内置微型X光管发射高能X射线，穿透样品表面并激发目标元素原子内层电子。

特征荧光产生：外层电子跃迁填补空位时释放特征X射线荧光，其能量与元素种类一一对应。

信号检测：高分辨率Si-PIN探测器捕获荧光信号，经多道分析器（MCA）转换为能谱图。

定量分析：通过FP（基本参数法）或经验系数法校正基体效应，结合标准样品库自动计算元素含量（ppm级精度）。

设备支持表面扫描与点测模式，检测深度达1-50μm（视材料密度）。

应用范围

电子电气：检测PCB板焊锡、连接器塑胶、线材绝缘层中的Pb/Cd/Br含量。

玩具制造：分析塑料玩具涂层、毛绒玩具填充物中的Hg/Cr⁶⁺迁移量。

汽车工业：验证内饰材料、电子元器件封装中的PBB/PBDE阻燃剂残留。

包装材料：筛查食品接触容器、印刷油墨中的Cl/Br超标风险。

新能源领域：监测锂电池正极材料、光伏组件背板中的重金属杂质。

技术参数

X光管：50kV/1000μA微型光管，铑（Rh）靶材，寿命≥30,000小时

探测器：Si-PIN半导体探测器，分辨率≤160eV@5.9keV（Mn Kα）

检测元素：Na（11）~U（92），覆盖ROHS 10项及卤素全谱

检测限：Pb/Cd/Hg≤1ppm，Cr⁶⁺≤5ppm，Br≤10ppm

样品室：φ310mm×150mm大腔体，支持异形件检测

分析时间：30秒~300秒可调（典型值60秒）

产品特点

智能校准：一键式自动校准功能，消除环境温湿度变化对检测结果的影响。

多级防护：三层铅屏蔽结构+激光定位安全联锁，确保操作人员辐射剂量＜0.5μSv/h。

数据管理：内置10,000组存储容量，支持USB/WiFi数据导出与LIMS系统对接。

合规性认证：通过CE、RoHS 2.0、REACH等国际标准认证，检测报告获SGS/TÜV认可。

模块化升级：可选配液氮冷却探测器（提升轻元素检测精度）或视频显微镜（辅助微区定位）。

维护便捷：光管与探测器免拆机校准，年维护成本降低40%。