工作原理

NanoLog®采用双光栅分光系统，通过第一光栅对入射光进行初步色散，再由第二光栅进一步优化光谱分辨率，有效抑制杂散光并提升信号纯度。结合高灵敏度CCD或光电倍增管（PMT）探测器，设备可精准捕捉微弱光信号，并通过软件算法还原光谱细节。其独特的光路设计支持宽波长范围（200-1100nm）覆盖，同时保持高光通量与低噪声特性。

应用范围

该设备广泛应用于半导体材料缺陷分析、荧光标记生物成像、光伏材料效率评估、催化剂表面反应监测及纳米材料光学特性研究等领域。典型应用包括量子点发光特性表征、单分子荧光检测、拉曼光谱增强效应验证以及超快激光脉冲的光谱解析，满足从基础科研到工业质检的多场景需求。

产品技术参数

波长范围：200-1100nm（可扩展至紫外-可见-近红外）

分辨率：0.05nm（FWHM，500nm处）

灵敏度：单光子计数级（S/N比≥10,000:1）

扫描速度：全谱扫描≤1秒，支持动态追踪模式

探测器：可选背照式CCD或高速PMT模块

接口兼容性：支持光纤耦合、显微镜联用及低温附件扩展。

产品特点

双光栅优化设计：通过光栅级联技术，兼顾宽波段覆盖与高分辨率，杂散光抑制比优于10⁻⁵。

超灵敏检测能力：单光子级灵敏度配合低噪声电路，适用于微弱信号分析，如单分子荧光检测。

模块化与灵活性：支持波长范围扩展、探测器升级及附件联动（如显微镜、激光器），适应多样化实验需求。

智能化软件平台：内置光谱解析、峰值拟合及数据导出功能，支持自动化脚本控制与多设备联动。

高稳定性与可靠性：采用全封闭光路设计与恒温控制，确保长期实验数据的一致性。

HORIBA NanoLog®双光栅光谱仪凭借其精准的光学设计、超凡的灵敏度与模块化扩展能力，为光谱分析领域提供了高效、可靠的解决方案，助力用户在材料科学、生命科学及光电技术研究中突破性能极限。