工作原理

XAFS300采用X射线吸收光谱技术，通过聚焦X射线束照射样品，检测吸收边附近（如K边、L边）的X射线吸收系数变化。吸收光谱分为XANES（近边结构）与EXAFS（扩展边精细结构）两部分，前者反映原子氧化态与配位对称性，后者通过傅里叶变换解析配位原子种类、键长及无序度。设备搭载Si(111)双晶单色器与高精度离子室探测器，结合Quantum Design专利的“快速扫描算法”，可实现分钟级数据采集，符合ISO 20525与ASTM E2858标准。

应用范围

该仪器适用于催化剂研究（金属活性中心配位环境分析）、电池材料（锂离子电池正极/负极局部结构演化追踪）、环境科学（重金属污染土壤中吸附形态解析）及纳米材料（量子点表面配位缺陷检测）等领域。其台式设计可替代传统大型同步辐射设施，显著降低实验成本与周期，是材料局部结构表征的核心工具。

产品技术参数

X射线源：Si(111)双晶单色器（能量范围5-30 keV）

能量分辨率：0.1 eV（@10 keV）

扫描速度：1-10分钟/谱（依分辨率需求）

吸收边范围：K边（C-U元素）、L边（4d过渡金属）

样品室：真空兼容（本底真空<10⁻⁵Pa），支持原位电化学/温度控制附件

探测器：高灵敏度离子室（动态范围10⁵）

软件平台：Athena/Artemis（支持XANES拟合、EXAFS反演、三维结构建模）

数据接口：千兆以太网、USB 3.0

电源：AC 100-240V（50/60Hz，功率≤1.5kW）

尺寸：1200mm×800mm×1000mm（重量≤500kg）

产品特点

台式设计，便捷高效：替代同步辐射设施，实验室级部署，显著降低实验成本与周期；

高能量分辨率与灵敏度：0.1 eV分辨率精准解析氧化态与配位环境，适配痕量样品分析；

快速扫描与实时处理：分钟级数据采集，Athena/Artemis软件支持实时XANES拟合与EXAFS反演；

多模式扩展能力：可选配原位电化学池、低温/高温样品台（支持-196℃~1000℃）；

用户友好型界面：图形化操作界面，自动校准与数据导出功能，适配不同经验水平用户；

安全防护设计：辐射防护罩、紧急停止、自动泄压阀，符合实验室安全规范；

合规认证：通过CE认证，符合ISO 20525、ASTM E2858标准。