工作原理

XL2100G采用高性能微型X射线管（Ag靶，38kV/2W）作为激发源，通过高能X射线轰击样品表面，使原子内层电子跃迁并释放特征X射线荧光。设备搭载高精度硅半导体探测器（分辨率<170eV），实时捕捉荧光能量信号，结合内置智能算法与多元素数据库，实现合金牌号快速识别及元素含量定量分析。其核心优势在于无需破坏样品、无需复杂预处理，单次检测仅需1-2秒即可输出结果。

应用范围

覆盖钢铁冶金、压力容器、汽车制造等行业场景：

合金鉴别：区分不锈钢（304/316L）、镍基合金（Inconel 625）、钛合金（Ti-6Al-4V）等400余种牌号；

质量控制：检测焊缝、管道、阀门等关键部件的元素成分，防止材料混料；

废旧回收：快速分类铜、铝、锌等有色金属，提升回收效率；

安全筛查：验证压力容器、储罐等设备的材质合规性，降低工业事故风险。

技术参数

设备尺寸256×275×100mm，重量1.53kg，支持IP54防护等级（防尘防水）。配备4.3英寸彩色触摸屏，内置10,000组数据存储空间，支持USB/蓝牙/RS-232多模式数据传输。分析范围覆盖钛（Ti）至铋（Bi）的25种元素，检测限低至10ppm，重复性误差≤0.5%。采用Peltier半导体恒温制冷技术，确保探测器在-20℃至50℃环境下稳定运行。

产品特点

极速响应：1秒内完成合金牌号识别，2秒输出元素含量报告；

智能交互：支持自定义菜单、多语言切换及日光下可视显示；

安全可靠：通过CE/RoHS认证，配备密码保护、自动关机及LED警示灯；

耐用设计：LEXAN塑料密封外壳抗冲击，电池续航达6小时，适应恶劣工况。