工作原理

XL2 980PLUS采用X射线荧光光谱（XRF）技术，通过微型高压X光管（Ag靶，6-45kV可调）激发样品表面，使原子内层电子跃迁并释放特征X射线荧光。其核心的硅漂移探测器（SDD）可捕捉190-950nm波长范围内的荧光信号，结合基本参数法（FP）分析软件，实现从镁（Mg）到铋（Bi）的31种元素定性定量分析。设备内置自动标准化功能，无需外部标样即可完成校准，确保检测结果一致性。

应用范围

该设备覆盖全产业链金属检测需求：在废旧金属回收领域，可快速鉴别不锈钢、铝合金等牌号；在航空航天领域，支持钛合金、镍基高温合金的成分分析；在电力行业，能检测管道焊缝中的硫（S）、磷（P）等有害元素。此外，其高温测试配件支持430℃样品直接检测，适用于热轧钢材、熔融金属等高温场景。

技术参数

重量：1.53kg（含电池）

尺寸：256×275×100mm

检测范围：Mg-Bi（31种元素），部分元素精度达0.001%

分析时间：合金牌号鉴别≤2秒，成分分析≤10秒

防护等级：IP54（防尘防水）

数据存储：10,000组光谱数据及图像

辐射剂量：<1.0μSv/h（符合国家安全标准）

产品特点

低故障率设计：采用一体化密封结构，关键部件寿命超10年，故障率低于0.5%，支持7×24小时连续运行。

高精度与稳定性：SDD探测器灵敏度较传统型号提升3倍，检测限低至2ppm，重复性≤0.3%。

智能化操作：内置12种语言系统，支持蓝牙/USB数据传输，可生成带GPS定位的PDF检测报告。

无损检测优势：无需制样，可直接分析固体、粉末、液体样品，适用于曲面、粗糙表面等复杂形态。