工作原理

JXF-8000基于X射线荧光光谱（XRF）技术。仪器内置微型X射线管发射高能X射线，激发样品中原子内层电子，产生特征X射线荧光。通过高分辨率探测器捕捉荧光能量与强度，结合标准物质库与算法，可快速定性定量分析样品中ROHS限制物质及卤素元素含量，适用于固态、粉末、液体等多种形态样品。

应用范围

设备适用于多场景环保与质量控制需求：

电子制造：PCB板、连接器等电子元件的ROHS合规性验证；

玩具行业：塑料、涂料中铅、镉等有害物质筛查；

汽车零部件：内饰材料、电子控制单元的环保性能评估；

环保监测：废弃电子产品回收前的有害物质检测。

产品技术参数

检测元素：Pb、Cd、Hg、Cr⁶⁺、PBB、PBDE、Cl、Br；

检测精度：±5%（浓度≥10ppm）；

检测时间：≤120秒/样本（快速模式）；

探测器：SDD硅漂移探测器（分辨率≤145eV）；

X射线管：微型X射线管（电压50kV，电流200μA）；

数据接口：USB、以太网（支持LIMS系统对接）；

仪器尺寸：480mm×350mm×220mm；

电源：AC220V±10%，50Hz；

防护等级：IP54（防尘防溅）。

产品特点

多元素同步检测：覆盖ROHS 6项有害物质及卤素元素，适配全球环保法规；

高精度与快速性：ppm级检测精度，120秒内完成全元素分析，提升检测效率；

智能软件：内置ROHS、无卤等标准库，支持自动合规判定与报告生成；

操作便捷：中文触控界面，预设电子、玩具等行业检测程序，无需专业背景即可操作；

合规性：符合IEC 62321、GB/T 26572等国际与国内标准，数据具备法律效力。