工作原理

AE1/RD1基于红外辐射比较法。仪器通过内置黑体辐射源发射标准红外辐射，样品与黑体在同一温度下被红外探测器同步检测。通过比较样品与黑体的辐射能量，结合普朗克定律计算材料在半球方向上的发射率（ε）。该技术适用于宽温域（-20℃~200℃）与多波段（2-25μm）的红外辐射特性分析。

应用范围

设备适用于多场景发射率测量需求：

建筑节能：外墙保温材料、LOW-E玻璃的隔热性能评估；

航空航天：航天器表面涂层、隔热材料的辐射特性验证；

纺织领域：防火服、户外装备面料的红外辐射屏蔽能力检测；

电子散热：LED基板、散热涂层的热辐射效率优化。

产品技术参数

发射率测量范围：0.01-1.00（精度±0.02）；

温度控制：室温-200℃（精度±0.5℃）；

波长范围：2-25μm（中远红外）；

样品尺寸：直径≥50mm（适应平面材料）；

数据采集：实时发射率曲线与平均值输出；

数据接口：USB 3.0、RS232；

仪器尺寸：600mm×500mm×400mm；

电源：AC220V±10%，50Hz。

产品特点

高精度与宽温域：发射率测量精度达±0.02，支持-20℃至200℃温域控制；

非接触式检测：避免样品污染或损伤，适用于脆弱材料（如薄膜、涂层）；

智能软件：内置发射率计算模型与标准物质库，支持自动校准与报告生成；

多场景适配：兼容建筑、航空、纺织等多行业测试需求；

合规性：符合ISO 18434、ASTM C1371等国际标准，数据具备法律效力。