工作原理
USPM-RU-W结合近红外光谱(NIR)与显微成像技术。近红外光(780-2500nm)照射样品时,分子振动与谐频吸收产生特征光谱,反映样品化学组成;同时,显微系统以高放大倍数(如50倍、100倍)捕获样品表面形貌。通过光谱-形貌数据融合,可实现微区(毫米级)成分分布可视化与定量分析。
应用范围
设备适用于多领域微观分析需求:
材料科学:高分子、复合材料微区成分鉴定与缺陷检测;
半导体行业:芯片封装材料均匀性分析与异物检测;
医药领域:药片成分分布验证与辅料均匀性筛查;
工业质检:金属涂层厚度测量、塑料制品添加剂迁移分析。
产品技术参数
光谱范围:780-2500nm(近红外);
光谱分辨率:≤8nm;
显微放大倍数:50倍、100倍、200倍可选;
图像分辨率:1920×1080像素(高清成像);
扫描速度:≤5秒/点(快速模式);
接口:USB 3.0、HDMI;
仪器尺寸:650mm×550mm×480mm;
电源:AC220V±10%,50Hz。
产品特点
微区成分可视化:同步获取光谱与显微图像,精准定位毫米级区域成分差异;
非破坏性检测:无需制样或染色,适用于精密部件与成品检测;
高灵敏度与速度:8nm分辨率可解析复杂混合物,5秒/点扫描效率满足产线需求;
智能数据分析:内置光谱库与算法,支持自动成分识别与报告生成;
操作便捷:中文触控界面,预设行业检测模板,无需复杂培训即可上手。