工作原理
设备采用微型X射线管激发镀层表面,通过高分辨率硅漂移探测器(SDD)捕获特征X射线荧光信号,结合智能算法与标准样品数据库,自动计算镀层厚度及成分比例。其核心优势在于无需破坏样品、无需化学试剂,1-5秒内即可完成单点检测,且内置气压补偿模块可修正海拔对检测结果的影响,确保高原、车间等复杂环境下的数据准确性。例如,在半导体封装领域,该设备可精准测量金线键合点的镀金层厚度,避免因热膨胀导致的虚焊问题。
应用范围
覆盖多行业精密检测需求:电子制造中用于PCB板镀铜、化金层厚度监控;半导体行业支持晶圆表面镀铝、镍层分析;精密五金领域可检测卫浴产品镀铬层、汽车零部件电泳漆膜厚;此外,设备兼容微区RoHS检测,可同步分析镀层中铅、汞等有害物质含量,满足欧盟环保标准。
技术参数
检测范围:0.01μm-2mm(镀层厚度),支持轻元素(如镁、铝)分析
分辨率:≤135eV,可区分0.1μm级厚度差异
检测时间:1-5秒/点,支持连续自动检测
光源系统:4W微型X射线管,电压5-50kV可调
防护等级:IP54防水防尘,适应-20℃至50℃工作环境
数据接口:USB/Wi-Fi双模式传输,兼容PC端专业软件分析
产品特点
高精度与稳定性:采用Peltier恒温冷却技术,确保探测器在-35℃至50℃环境下稳定工作,长期使用误差<1%。
智能化操作:7英寸触摸屏支持一键式检测,内置影像识别系统可自动定位凹槽、异形件测试点,效率提升40%。
多功能扩展性:支持定制化检测程序,可升级为全自动移动平台,实现批量样品无人值守检测。
安全可靠:符合ISO9001质量管理体系,通过CE认证,配备三重安全联锁装置,防止X射线泄漏。