工作原理

设备基于布拉格衍射定律，通过低功率X射线管发射X射线束，穿透样品后与晶体原子相互作用产生衍射现象。二维阵列探测器同步采集全谱数据，结合透射衍射几何技术降低样品密度对分辨率的影响，可精准捕捉微米级晶粒的衍射信号。配套的Rietveld精修软件可解析衍射峰位、强度及峰形，实现晶体结构、晶格常数及残余应力的定量分析。

应用范围

设备覆盖多场景检测需求：在工业领域，可现场分析管道腐蚀产物、设备结垢成分，例如快速鉴定不锈钢焊缝中的σ相脆化层；地质勘探中，支持野外岩矿的实时物相鉴定，如区分石英与方解石等相似矿物；教学科研场景下，适用于高校实验室的晶体学教学及新材料研发中的原位结构监测。其微量化制样功能（仅需15-20mg样品）尤其适合贵金属或稀有样品分析。

技术参数

射线源：Mo靶/Cu靶可选，额定功率50W（50kV, 1.0mA）

探测器：HPC二维阵列探测器，像素1280×256，角分辨率0.25°

角度范围：2θ 2.5°-27.5°（等效Cu靶5.5°-62.2°）

样品量：≤20mg，颗粒尺寸＜120μm

检测时间：常规样品3-5分钟，半导体材料＜5分钟

防护标准：符合GBZ115-2002双重防护，铅门连锁+电子防护系统

数据接口：USB/蓝牙/WIFI，支持Jade、Highscore等通用分析软件

产品特点

极致便携性：整机重量＜20kg，手提箱式设计，适应-20℃~35℃极端环境，防水防震等级达IP65。

智能化操作：一键式自动校准，内置常用矿物数据库，支持录井现场快速物相匹配。

高精度与可靠性：物相定量分析检出限＞3wt.%，相对误差＜10%，数据重复性优于台式设备。

模块化扩展：可选配XRF功能实现成分-结构同步检测，或加载第二探测器扩展数据采集范围至5°-120°。