微聚焦二维X射线衍射仪
主要用途
配有微焦斑光源，对固体或粉末样品进行微区（最小50μm）的物相分析，以及宏观应力、宏观织构及原位高低温分析测试，同时配备大窗口面探测器，单帧可覆盖30°范围内的多重布拉格衍射花样，对单晶样品的相关测试具有极大优势。
项目介绍
设备参数/指标
l 电压/电流：40 V/375 μA
l 功率：30 W
l 窗口尺寸：140 mm
l 像素数量：2048*2048
l 微焦斑直径：0.05 mm~1 mm
l 面探测器开角范围：±15°
l 常规测试2θ范围：0-140°
l 样品台旋转角：-10°~90°
l 样品台行程：X±40 mm
Y±40 mm
Z:-1~2 mm
功能配置
l Iμs微聚焦Co靶光源
l 测角仪：测角仪半径大于280mm，且可连续改变，最小运动步长 0.0001°， 2θ测试最大范围140°
l 探测器：二维实时面探测器Vantec-500
l 样品台：高精度5轴尤拉环样品台，采用光学编码器技术与步进马达双重定位
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京公网安备 11010702002294号
