超声波扫描显微镜
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超声波扫描显微镜
来源:艾格斯威(上海)检测设备有限公司
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简介: 艾格斯威AG-C60超声波扫描显微镜是一款高端无损检测设备,采用高频超声波扫描与三维成像技术,可非破坏性检测材料内部缺陷(如分层、裂纹、孔隙),适用于半导体封装、新能源电池、复合材料及精密器件领域,是产品质量控制与失效分析的核心工具。
产品详细

艾格斯威


工作原理

设备通过压电换能器发射高频超声波(1~50MHz),穿透样品后,部分声波被内部缺陷或界面反射。接收换能器捕获反射回波,经高速ADC采样与数字信号处理后,系统分析回波时间差与幅度,生成二维C扫描图像或三维点云图,并结合算法重构缺陷形貌与位置。支持A/B/C多模式扫描,适配不同检测需求。



应用范围

广泛应用于半导体行业(芯片封装缺陷、焊点空洞检测)、新能源领域(电池极片分层、隔膜孔隙分析)、航空航天(复合材料层间脱粘验证)、电子制造(PCB板内部裂纹排查)及第三方检测机构。适用于实验室精密分析、生产现场质量控制及失效件故障诊断,尤其适合高精度、微小缺陷的检测场景。



产品技术参数


扫描模式:A/B/C扫描、三维重构(TFM技术);

频率范围:1~50MHz(可扩展至100MHz);

扫描面积:最大200mm×200mm(X/Y轴),Z轴分辨率0.1μm;

分辨率:横向0.5μm,纵向0.1μm(50MHz探头);

检测灵敏度:可识别φ0.1mm孔隙(塑料封装)、φ0.05mm裂纹(金属);

显示模块:15.6英寸4K触控屏(分辨率3840×2160),支持多窗口对比;

数据存储:10000组扫描报告(含图像与参数),支持按批次、日期检索;

防护等级:主机IP52,探头IP67(防水防尘),适应实验室环境;

符合标准:GB/T 32563、ASTM E1351、ISO 22825。


产品特点


高频宽频检测:1~50MHz可调频率,适配从半导体到复合材料的多样本检测;

三维成像:TFM技术重构缺陷三维形貌,精准定位缺陷深度与尺寸;

高分辨率:0.5μm横向分辨率,可识别微米级孔隙与裂纹;

智能软件:内置缺陷自动识别算法,支持参数统计、趋势分析及标准报告生成;

操作简便:中文触控界面引导,支持一键自动扫描与参数优化;

数据管理:支持USB导出、蓝牙打印及无线传输(可选Wi-Fi模块),对接质量管理系统。

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标签:超声波扫描显微镜,物理检测设备
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