工作原理
设备通过压电换能器发射高频超声波(1~50MHz),穿透样品后,部分声波被内部缺陷或界面反射。接收换能器捕获反射回波,经高速ADC采样与数字信号处理后,系统分析回波时间差与幅度,生成二维C扫描图像或三维点云图,并结合算法重构缺陷形貌与位置。支持A/B/C多模式扫描,适配不同检测需求。
应用范围
广泛应用于半导体行业(芯片封装缺陷、焊点空洞检测)、新能源领域(锂电池极片分层、隔膜孔隙分析)、航空航天(复合材料层间脱粘验证)、电子制造(PCB板内部裂纹排查)及第三方检测机构。适用于实验室精密分析、生产现场质量控制及失效件故障诊断,尤其适合高精度、微小缺陷的检测场景。
产品技术参数
扫描模式:A/B/C扫描、三维重构(TFM技术);
频率范围:1~50MHz(可扩展至100MHz);
扫描面积:最大200mm×200mm(X/Y轴),Z轴分辨率0.1μm;
分辨率:横向0.5μm,纵向0.1μm(50MHz探头);
检测灵敏度:可识别φ0.1mm孔隙(塑料封装)、φ0.05mm裂纹(金属);
显示模块:15.6英寸4K触控屏(分辨率3840×2160),支持多窗口对比;
数据存储:10000组扫描报告(含图像与参数),支持按批次、日期检索;
防护等级:主机IP52,探头IP67(防水防尘),适应实验室环境;
符合标准:GB/T 32563、ASTM E1351、ISO 22825。
产品特点
高频宽频检测:1~50MHz可调频率,适配从半导体到复合材料的多样本检测;
三维成像:TFM技术重构缺陷三维形貌,精准定位缺陷深度与尺寸;
高分辨率:0.5μm横向分辨率,可识别微米级孔隙与裂纹;
智能软件:内置缺陷自动识别算法,支持参数统计、趋势分析及标准报告生成;
操作简便:中文触控界面引导,支持一键自动扫描与参数优化;
数据管理:支持USB导出、蓝牙打印及无线传输(可选Wi-Fi模块),对接质量管理系统。